2 保持管脚A的电压,在管脚B加一较高负电压,电流Ib流过管脚B之正向偏压二极管 。由于从管脚A和管脚B至接地之共同基片电阻内的电流分享,电流Ia会减少 。
3 再次测量流过管脚A的电流Ia 。如果当电压被加到管脚B时Ia没有变化(delta),则一定存在连接问题 。
DeltaScan软件综合从该器件上许多可能的管脚对得到的测试结果 , 从而得出精确的故障诊断 。信号管脚、电源和接地管脚、基片都参与DeltaScan测试,这就意味着除管脚脱开之外,DeltaScan也可以检测出器件缺失、插反、焊线脱开等制造故障 。
GenRad类式的测试称Junction Xpress 。其同样利用IC内的二极管特性,只是测试是通过测量二极管的频谱特性(二次谐波)来实现的 。
DeltaScan技术不需附加夹具硬件,成为首推技术 。
22 FrameScan电容藕合测试
FrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开 。每个器件上面有一个电容性探头,在某个管脚激励信号,电容性探头拾取信号 。如图所示:
1 夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头 。
2 测试仪内的模拟测试板(ATB)依次向每个被测管脚发出交流信号 。
3 电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号 。
4 ATB测量电容性探头拾取的交流信号 。如果某个管脚与电路板的连接是正确的,就会测到信号;如果该管脚脱开,则不会有信号 。
GenRad类式的技术称Open Xpress 。原理类似 。
此技术夹具需要传感器和其他硬件,测试成本稍高 。
3 Boundary-Scan边界扫描技术
ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点 。但随着器件集成度增高 , 功能越来越强 , 封装越来越?。?SMT元件的增多,多层板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一个节点放一根探针变得很困难,为增加测试点,使制造费用增高;同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难,开发周期延长 。为此,联合测试组织(JTAG)颁布了IEEE11491测试标准 。
IEEE11491定义了一个扫描器件的几个重要特性 。首先定义了组成测试访问端口(TAP)的四(五〕个管脚:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST) 。测试方式选择(TMS)用来加载控制信息;其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式,主要有外测试(EXTEST)、内测试(INTEST)、运行测试(RUNTEST);最后提出了边界扫描语言(Boundary Scan Description Language),BSDL语言描述扫描器件的重要信息,它定义管脚为输入、输出和双向类型 , 定义了TAP的模式和指令集 。
具有边界扫描的器件的每个引脚都和一个串行移位寄存器(SSR)的单元相接,称为扫描单元,扫描单元连在一起构成一个移位寄存器链,用来控制和检测器件引脚 。其特定的四个管脚用来完成测试任务 。
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